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    薄膜電阻及厚度測試儀

    簡要描述:

    薄膜電阻及厚度測試儀可按照需求配置單個或多個針對不同樣品的高敏感探頭進行測量,并通過顯示模塊輸出。檢測終輸出結果可顯示為薄膜電阻(Ohms/sq),薄膜電導(Mhos/sq),厚度(單位:um)等。

    更新時間:2018-12-11

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    薄膜電阻及厚度測試儀

    薄膜電阻及厚度測試儀采用渦流檢測技術,可按照需求配置單個或多個針對不同樣品的高敏感探頭進行測量,并通過顯示模塊輸出。檢測最終輸出結果可顯示為薄膜電阻(Ohms/sq),薄膜電導(Mhos/sq),厚度(單位:um)等。

    渦流技術
    渦流檢測儀的基本要素是感應探頭。通過交流電流產生一個磁場,當磁場與導電材料接觸時,則會在該材料中感應到渦流。測試材料的特性可產生一系列獨特結果,可用來測量材料的薄膜電阻。 評估對象僅限與材料接觸的磁場。此磁場相對較弱,不會產生熱能,因此不會破壞材料。渦流技術相比接觸式測量法(例如四探針測試法)有著諸多優勢,與此同時: 
    不破壞材料 
    讀取絕緣層內的導電層 
    采樣頻率高達數萬。

    典型用途 
    防靜電/導電薄膜 
    天線 
    汽車 
    電池 
    裝飾薄膜/紙張 
    顯示器 
    花線電路和柔性電路板 
    電鍍 
    玻璃窗 
    金屬化電容用箔 
    金屬化標簽 
    微波感應器 
    包裝 
    雷達吸波材料 
    反射和反光材料 
    半導體 
    太陽能 
    透明導電膜

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